Анализатор тяжелых металлов спектрометр EDX 2800 XRF

Диапазон измерений: 1PPM--99.99 Точность определения толщины напыления: 0.05um Точность: 0.05% Диапазон элементов: S~U, пределы обнаружения RoHS анализа по Cd,Pd,Cr,Hg,Br достигают 1PPM Измеряемые субстанции: порошкообразные, твердые, жидкие вещества. Время тестирования : 60--300 сек Счетчик :1300~8000 Cps Напряжение:15~50кВ Сила тока:50~1000мА Полупроводниковый детектор с электрической системой охлаждения Относительная влажность: <70% Размеры: 605*395*70 мм Напряжение: AC 100В/220В Коллиматор: ?8, ?6, ?4, ?3, ?2, ?1, ?0.5, ?0.1мм. размер камеры: 2800 - 605мм x 395мм x 100мм Конфигурация: Детектор на регулируемом резистивном диоде Усилитель Источник питания высокого напряжения Рентгеновская трубка.