Микроскоп ФемтоСкан Инлайт

Микроскоп для совмещенных исследований с помощью АСМ и интерференционной микроскопии Интерференционный микроскоп «ФемтоСкан Инлайт» служит для точного измерения топографии отражающих объектов, может использоваться для наблюдения плоскостности динамически изменяющейся поверхности (например, грани растущего кристалла), измерения толщины пленок (высоты выступов, образованных краями пленки и подложки). Микроскоп позволяет исследовать образцы на воздухе и в жидких средах. Принцип действия основан на интерференции лучей отраженных от поверхности исследуемого образца с опорным световым потоком одинаковой интенсивности. атомно-силовая микроскопия сканирующая туннельная микроскопия сканирующая резистивная микроскопия электростатическая микроскопия магнитно-силовая микроскопия нанолитография дистанционное управление экспериментом оптическая микроскопия с передачей данных через Интернет