Тестер для контроля транзисторов, диодов и полупроводниковых приборов Formula TT

Тестер для определения коротких замыканий и обрывов цепей ADD330

Тестер ADD330 предназначен для поиска и локализации обрыва цепи, а также коротких замыканий. Прибор прост в использовании и будет не заменимым помощником в любой автомастерской и не только. Тестер цеп

Прямой инспекционный микроскоп для исследования плоских дисплеев и полупроводниковых подложек

Микроскопы Eclipse L300/L300D идеальный инструмент для исследования 17 типов плоских дисплеев и полупроводниковых пластин диаметром до 300мм на наличие дефектов. Модели L300/L300D реализованы на оптич

Диагностический набор для контроля входного давления и давления обратной ветви дизельных систем впрыска Common Rail SMC-1005/1

Предназначен для работы c топливоподкачивающими насосами ТНВД Bosch (CP1, CP2, CP3, CP1H, CPN2 и др.), Delphi, Denso (HP-0, HP-2, HP-4). Прибор предназначен ТОЛЬКО для тестирования линий НИЗКОГО ДАВЛЕ

Тестер для определения коротких замыканий и обрывов цепей ADD330

Тестер ADD330 предназначен для поиска и локализации обрыва цепи, а также коротких замыканий. Прибор прост в использовании и будет не заменимым помощником в любой автомастерской и не только. Тестер цеп

Сборка интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в пластмассовых. керамических корпусах

Сборка всех типов ИС и дискретных полупроводниковых приборов в корпуса DIP, SO, PGA, BGA, SOT, TO т.д.