Тестер для контроля транзисторов, диодов и полупроводниковых приборов Formula TT

Прямой инспекционный микроскоп для исследования плоских дисплеев и полупроводниковых подложек

Микроскопы Eclipse L300/L300D идеальный инструмент для исследования 17 типов плоских дисплеев и полупроводниковых пластин диаметром до 300мм на наличие дефектов. Модели L300/L300D реализованы на оптич

Тестер для контроля высокочастотных CБИС Formula HF

Тестер предназначен для функционального и параметрического контроля цифровых микросхем произвольной логики большой степени интеграции. Тестер представляет собой автоматизированную систему функциональн

Диагностический набор для контроля входного давления и давления обратной ветви дизельных систем впрыска Common Rail SMC-1005/1

Предназначен для работы c топливоподкачивающими насосами ТНВД Bosch (CP1, CP2, CP3, CP1H, CPN2 и др.), Delphi, Denso (HP-0, HP-2, HP-4). Прибор предназначен ТОЛЬКО для тестирования линий НИЗКОГО ДАВЛЕ

Тестер для определения коротких замыканий и обрывов цепей ADD330

Тестер ADD330 предназначен для поиска и локализации обрыва цепи, а также коротких замыканий. Прибор прост в использовании и будет не заменимым помощником в любой автомастерской и не только. Тестер цеп

Керамичнские корпуса для интегральных микросхем и полупроводниковых приборов

Металлокерамические многовыводные (240-1000 и более выводов) корпуса серий CPGA, CBGA, CLGA, CQFP, LCC и др. для больших интегральных микросхем.