Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 201

Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1пА до 11,5нА, плотность тока до 50 А/см2. Система оснащена 4-х осевым моторизованным столиком 50х50 мм, газовыми инжекционными системами для напыления проводников и диэлектриков, а также для травления образцов. Прибор идеален для анализа внутреннего строения объектов и подготовки проб к анализу на просвечивающем микроскопе.