Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L»

"Нонотехнологический комплекс (НТК) «Умка-02-L» представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Низкотоковая модификация специально разработана для исследования плохопроводящих полимерных пленок и биологических объектов. Благодаря особенностям конструкции комплекса, он может работать на поверхостных точках утечки и сканировать объекты, ранее считавшиеся непригодными для изучения методами СТМ без дополнительных технологических операций (запыления металами и т.д.). Комплекс также может использоваться для исследования быстроокисляемых поверхностей и поверхностей с высокой адгезией. Принцип работы туннельного микроскопа основан на эффекте туннелирования электронов через диэлектрический барьер в системе металл-диэлектрик-металл или металл-диэлектрик-полупроводник. В качестве одного из электродов выступает исследуемый образец, который должен быть проводящим, в качестве другого — игла микроскопа (зонд). Основные технические характеристики: • поле сканирования 7x7 мкм; • разрешение в плоскости образца не хуже 0,02 нм, по вертикали не хуже 0,01 нм; • размер образца 8x8x0,5 мм; • время сканирования полного кадра не более 4 мин."