Электрический контроль металлизации переходных отверстий на ПП/МПП

Технология микроомных измерений, предложенная фирмой MicroCraft (Япония), позволяет с помощью подвижных пробников выполнять штатное тестирование ПП (поиск КЗ и обрывов), а также отдельным тестом контролировать сопротивление всех переходных сопротивлений на плате в диапазоне от 100 мкОм. Данная технология может быть реализована на любом тестере печатных плат фирмы MicroCraft (Япония), включая самый популярный в России Emma ELX6146. Уже имеющиеся у Заказчика тестеры этой фирмы также могут быть доработаны.

Контактирование с переходными отверстиями осуществляется с помощью пробников Кельвина, необходимых для реализации 4-х проводных измерений. Прецизионный микроометр подключается к пробникам через блок коммутации. Управление и обмен данными осуществляется через интерфейс GPIB.