Рентгеновский дифрактометр Advan XRD Pro

Рентгеновский дифрактометр Advan XRD Pro

Дифрактометр AdvanXRD Pro является общей системой построенной на использовании дифракции рентгеновских лучей. Прибор имеет различные конфигурации рентгеновской оптики для различных экспериментальных требований. Дифрактометр AdvanXRD Pro оснащен двумя детекторами, стандартным сцинтилляционным детектором и детектором скорости. Прибор позвояет проводить очень быстрое сканирование для идентификации простых по составу порошков, а также длительное сканирование, как правило, необходимое для анализа сложных смешанных фаз, с высоким разрешением, идентификации микропримесей. Возможны два режима сканирования, непрерывный режим сканирования, который объединяет счет на небольшом угловом диапазоне (быстрое сканирование), и шаговый режим сканирования, который используется для медленного сканирования и любой точной работы.

Спецификация

Высокостабильный генератор рентгеновского излучения с длительным сроком службы. Максимальная выходная мощность 3 кВт (4кВт)Максимальное выходное напряжение 15-60 кВМаксимальный выходной ток 6-80 мАМинимальный шаг изменения напряжения 1 кВМинимальный шаг изменения силы тока 1 мАСтабильность <0.01 %Кабель высокого напряжения 100 кВ, длина 2 м.Защитные схемы и сигнальные индикаторы: КВ высоко и низко защитные схемы.Схемы защиты от перегрузок, 6 видов: 0.35kW, 0.7kW, 1.0kW, 1.5kW, 2.0kW, 2.7kW Six GradeЗащитные схемы от перегрузки линий: 20AИндикаторы водяной системы охлаждения.Радиационная защита с предохранительным механизмом. Рентгеновская трубка с длительным сроком службы Материал анода: медь, NF модельМаксимальная мощность: 2.0 кВтФокус: 1мм x 10 ммПерестройка фокуса: линия / точка Гониометр Тип: Вертикальный (&Theta-2&Theta); (&Theta-&Theta)Радиус гониометра: 180 мм (перестраиваемый 150-285 мм)Диапазон измерения: -30 °~ + 160° (2?)
-30 °~ + 88° (?s)
-30 ° ~ + 160° (?d)Режимы сканирования:
(?-2?) связанный
?,2? независимый
?s-?d связанный режим
?, 2? независимый режимРежимы работы: Непрерывное сканирование, ГРМ Шаг сканирования, постоянный шаг сканированияДиапазон скорости сканирования: 0/125°-120°/минМинимальный шаг: 0.00025°Воспроизводимость: 0.0006°Точность: 0.001°Щели: Щель расходимости: 1/6 ° 1/2 ° 1 ° 2 °
Приемная щель: 0.1, 0.15, 0.3, 0.45, 0.6, 1.0, 2.0 мм
анти-рассеивающие щели: 1/2 ° 1 ° 2 °
нулевая щель: 0.02 мм
Диафрагма Соллера: два набораФильтр: Ni Детектор Тип:Сцинтилляционный счетчикКристалл:NaI.Максимальная линейная скорость счета: 500,000 counts/sМаксимальный уровень шума: <1 counts/s. PHA система Линейный усилитель Усиление 5-100, для настройки бинарными степенями.Стабильность прироста: <±0.3%.Нелинейный коэффициент искажения: 0.1-10В.Уровень шума, преобразовываемый на вход (стандартное отклонение): <15 µV Анализатор высоты пульса Уровень: 0.1-10ВТуннель: 50мВ-5ВСтабильность: дрейф < 15 милливольт для уровня и <15 милливольт для туннеля в течение 8 часов.Время различения: 1 µs. Программное обеспечение MSAL XD Операционная система. Измерение дифракционной линии.Подсчет за определенное время.Время определенного счета.Поворот гониометра.Шаг гониометра вперед/назад.Выравнивание гониометра.Верификация ?-?. Обработка дифрактограммы. Редактирование, показ и заговор образца дифракции.Поиск пиков.Измерение области пиков и анализ отдельного пика.Устранение фона.Сглаживание.Сжатие образцов. Обработка данныхОсновные физические и химические константы.Периодическая таблица элементов.
Основные физические свойства и кристаллические структуры элементов.Показатели поглощения на единицу массы для элементов.Вычисление 2? от d; вычисление d от 2?.Reference intensity rate K.К параметры характеристических спектров элементов. Аналитический блок Качественный анализ (поиск/выявление),Количественный анализ.Индекс,уровень дифракционной линииУточнение параметров кристаллической решеткиМножественное разделение пиков.Выделение K?2. Замкнутая система охлаждения Максимальное давление воды: 0.7MPaКонтроль температуры. Монохроматор дифрагированного пучка с дуговым графитовым кристаллом Радиус графита: 224 ммОтражающая способность >28% Высокотемпературная камера Температура до 1200 СПрограммный контроль