Сканирующие (растровые) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базов...
FTPAdvanced - прибор для измерения толщины пленки и коэффициента преломления методом рефлектоскопии. Предусмотрена возможность подключения к микроскоп...
Рентгено-флуоресцентные анализаторы покрытий X-Strata производства OXFORD Instruments (UK) позволяют определять толщину и химический состав тонких пок...
Компания ANNEALSYS производит системы для быстрых термических процессов (RTP) для обработки пластин диаметром от 2 до 8 дюймов с температурным диапазо...