Лазерный сканирующий 3D микроскоп VK-X100/X200

Лазерный сканирующий 3D микроскоп VK-X100/X200
"VK-X100/X200 Series является дальнейшем развитием системы VK-9700. Keyence семейства VK-X100/X200 Series- это уникальное сочетание удобства цифрового оптического микроскопа, точности (высокие разрешение и глубина резкости) характерной для электронного микроскопа и широких беcконтактных измерительных возможностей, присущих лазерному профилометру. VK-X200 Series самый передовой в мире лазерный сканирующий микроскоп с максимальным увеличением до 24000х крат и разрешением 0,5 нанометров. В VK-X100/X200 Series реализован алгоритм полностью автоматических измерений. Программное обеспечение семейства VK VK-X100/X200 легко в использовании, имеет интуитивно-простой в освоении интерфейс и позволяет: измерять высоту, ширину, поперечное сечение, угол или радиус любого выбранного Пользователем профиля в разрезе выполнять бесконтактное измерение в XYZ координатах, измерения в 3D, профилометрия, неровности любой линии, а также шероховатости с большой точностью на выбранном участке объекта измерить объем, площадь поверхности и отношение участка к площади поверхности объектов; проводить автоматические измерения высоты и ширины структур. сравнивать наложением изображения с измерением различий объектов. Спецификация Апохроматические объективы 10х, 20х, 50х/0,95, 150х/0,95 Моторизованный оптический zoom от 1х до 8х Суммарное увеличение до 24.000х* Разрешение по Z - 0,0005мкм (повторямость ? 0,012мкм**) Диапазон измерений по Z - 7мм Разрешение по XY - 0,001мкм (повторямость 3? 0,02мкм***) 1/3" цветная CCD камера со сверх высоким разрешением (3072х2304). Увеличение объектива 150х, соотношение размеров матрицы и монитора 20х даёт увеличение 3000х + промежуточный оптический ZOOM даёт увеличение до 8х, итого 24000х крат Повторяемость ? определялась экспериментально путём многократного измерения стандарта глубины 2 мкм (объектив 50х/0,95) Повторямость 3? определялась экспериментально путём многократного измерения дифракционной решетки (расстояние между линиями на стандартном образце 1 мкм, объектив 150х/0,95) Высокая антивибрационная защита"
Вас также могут заинтересовать

Цветной 3D лазерный сканирующий микроскоп Keyence VK-9700

Keyence VK-9700 - цветной 3D лазерный сканирующий микроскоп с разрешением 1 нм, совмещающий в себе удобство оптического микроскопа с функциями анализа данных растрового электронного микроскопа и точно

Лазерная сканирующая система Faro Focus 3D

FARO Focus 3D: Маленький, легкий, удобный Focus - высокоскоростной 3D сканер для детализированных измерений и документации. Focus использует лазерные технологии для создания превосходных трехмерных из

"Лазерная сканирующая система IMAGER 5006 "Z+F"

"Лазерная сканирующая система IMAGER 5006 "Z+F" "

Лазерная сканирующая система Riegl LMS-Z620

Наземная сканирующая система RIEGL LMS-Z620 состоит из трехмерного лазерного сканера, цифровой камеры высокого разрешения и программного обеспечения RiSCAN PRO. Данная система предоставляет данные ска

"Лазерный сканирующий микроскоп со спектрометром "Nanofinder S”"

"Лазерный сканирующий микроскоп со спектрометром "Nanofinder S" - это универсальный комплекс, позволяющий проводить многофункциональный анализ микроструктур в 3-х измерениях. Он отлично сочетает в себ
Внимание!
Информация по Лазерный сканирующий 3D микроскоп VK-X100/X200 предоставлена компанией-поставщиком XT-i (Икст-ти-ай инструмент). Для того, чтобы получить дополнительную информацию, узнать актуальную цену или условия постаки, нажмите ссылку «Отправить сообщение».
Контакты компании
Страна
Россия
Регион
Московская область
Город
Москва
Адрес
Москва, ул. Кантемировская, д.53, корп.1
Телефон
+7 (495) 3320040
Сделать запрос
Введите свое имя
Укажите свой Email
Напишите ваш вопрос
Подтвердите согласие