Сканирующие (растровые) электронные микроскопы

Сканирующие (растровые) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базовое оснащение сканирующих электронных микроскопов позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до долей нанометров с увеличениями более 1 млн. крат. Если дооснастить прибор специализированными аналитическими приставками, появляется возможность изучать не только морфологию, но и элементный состав образцов, изучать ориентацию микрокристаллов, строить карты распределения химических элементов по площади образца и др. К таким приставкам, прежде всего, относятся спектрометры с дисперсией по энергиям (ЭДС) и по длинам волн (ВДС), а также системы регистрации и анализа картин дифракции обратно-рассеянных электронов (ДОРЭ). - ЭДС позволяют проводить экспресс-анализ элементного состава образца, - ВДС-анализ требует значительно больше времени, но позволяет получать данные с более высокой точностью (предел обнаружения ВДС по легким элементам выше, чем ЭДС на 2 порядка) - ДОРЭ-анализ позволяет изучать структуру и текстуру кристаллических материалов. Японская фирма JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory), имеющая самый большой в мире опыт производства электронных микроскопов, является признанным мировым лидером в этой области. Ей принадлежит около 50 всего рынка электронных микроскопов. Российские специалисты работают на технике JEOL с 50-х годов 20 века и высоко ценят ее за высочайшие технические характеристики, надежность, неприхотливость, низкую стоимость эксплуатационных расходов. Помимо микроскопов JEOL предлагает всю линейку приборов для пробоподготовки, оптимизированных для проведения тех или иных исследований с помощью РЭМ. С учетом высокого спроса на продукцию фирмы JEOL в России, с 2005 года в Москве работает заводской сервисный центр JEOL , который осуществляет обслуживание всего поставляемого оборудования силами японских и русских сервисных инженеров. Также в Москве имеется склад запчастей и расходных материалов, которые могут быть поставлены по требованию заказчика в течение считанных дней. Растровые электронные микроскопы JEOL с полевой эмиссией: Новейший аналитический растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7600F (катод Шоттки) Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7500F Аналитический растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7001F (катод Шоттки) Недорогой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6701F Термоэмиссионные растровые электронные микроскопы JEOL: Универсальный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610 Универсальный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6510 Настольный растровый электронный микроскоп JEOL JCM-5000