Прямой инспекционный микроскоп для исследования плоских дисплеев и полупроводниковых подложек

Микроскопы Eclipse L300/L300D идеальный инструмент для исследования 17 типов плоских дисплеев и полупроводниковых пластин диаметром до 300мм на наличие дефектов. Модели L300/L300D реализованы на оптической системе CFI60 этот микроскоп обеспечивает картинку великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Микроскоп позаимствовал систему единую призмы Senarmont, котрая позволяет проводить исследований по методу DIC простым введением в револьверное устройство одной призмы Номарского. Изображения по методу DIC получаются живыми с минимальным количеством уветовых теней даже на малых увеличениях. Слайдер DIC высококонтрастного типа обеспечивает формирование изображений с бОльшей чувствительностью.