МКТ для сканирующей электронной микроскопии

Точная трехмерная микроскопия для СЭМ Микрокомпьютерная томография (МКТ) для сканирующей электронной микроскопии поможет дополнить ее точной трехмерной микроскопией независимо от производителя или модели. Микрокомпьютерная томография для СЭМ расширяет информацию о поверхности, полученную с помощью традиционных снимков СЭМ, позволяя глубже взглянуть на внутреннюю микроструктуру образца посредством неразрушающей и простой процедуры. Некоторые основные свойства Получение информации о внутренней микроструктуре образца посредством неразрушающей процедуры и без какой-либо дополнительной подготовки пробы Измерение и визуализация внутренней морфологии в двухмерном и трехмерном режиме Создает реалистичные модели для виртуального обследования образца Интуитивное и простое в использовании программное обеспечение для трехмерной передачи, визуализации в виде трех ортогональных сечений или срез за срезом Объем сканирования до 4 мм в диаметре, максимальная длина образца - 10 мм Обнаружение деталей размером до 400 нм