сканирующий оптический микроскоп ближнего поля - Certus NSOM

Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ, АСМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля.

Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9600/9700 Shimadzu (Япония)

Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок

Сканирующий сквид-микроскоп ССМ-77

Cканирующий магнитный микроскоп на основе СКВИДа - сверхпроводящего квантового интерференционного датчика - предназначен для исследования магнитных характеристик различных объектов при температуре кип

Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L»

"Нонотехнологический комплекс (НТК) «Умка-02-L» представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Ни

МКТ для сканирующей электронной микроскопии

Точная трехмерная микроскопия для СЭМ Микрокомпьютерная томография (МКТ) для сканирующей электронной микроскопии поможет дополнить ее точной трехмерной микроскопией независимо от производителя или мод