сканирующий оптический микроскоп ближнего поля - Certus NSOM

Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный со спектрометром с высоким спектральным разрешением, конфокальным и оптическим микроскопами

"сканирующий зондовый микроскоп (атомно-силовой микроскоп); традиционный оптический прямой или инвертированный микроскоп; конфокальный лазерный микроскоп; конфокальный микроскоп комбинационного (раман

Сканирующий зондовый микроскоп - Certus

В основном режиме Certus работает как атомно-силовой микроскоп (АСМ). В качестве дополнительных реализованы режимы: сканирующий туннельный микроскоп (СТМ), сканирование датчиком Холла, метод Кельвина

Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9600/9700 Shimadzu (Япония)

Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок

МКТ для сканирующей электронной микроскопии

Точная трехмерная микроскопия для СЭМ Микрокомпьютерная томография (МКТ) для сканирующей электронной микроскопии поможет дополнить ее точной трехмерной микроскопией независимо от производителя или мод

Компонентный индикатор ближнего поля частотомер NR-D

Компонентный индикатор ближнего поля частотомер "NR-D" предназначен для поиска, обнаружения и локализации мест скрытой установки различных типов радиопередающих устройств, находящихся в активном режим