сканирующий оптический микроскоп ближнего поля - Certus NSOM

Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ, АСМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля.

Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9600/9700 Shimadzu (Япония)

Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок

Сканирующий сквид-микроскоп ССМ-77

Cканирующий магнитный микроскоп на основе СКВИДа - сверхпроводящего квантового интерференционного датчика - предназначен для исследования магнитных характеристик различных объектов при температуре кип

Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L»

"Нонотехнологический комплекс (НТК) «Умка-02-L» представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Ни

Пассивный двухполосный студийный монитор ближнего поля Dynaudio acoustics BM6P

"Пассивный двухполосный студийный монитор ближнего поля -1 штука, (6.5" вуфер и 1.1" твитер), 53 Hz - 20 kHz "